De Remote VNF-200 VCSEL Near Field Characteristic Analyzer is ontworpen voor de analyse van de Near Field Characteristics van VCSEL en combineert snelle meetsnelheden, hoge optische resolutie en hoge meetnauwkeurigheid. Het instrument maakt gebruik van een combinatie van microoptische systemen en beeldvormingssystemen, en het ontwerp is geoptimaliseerd op basis van de kenmerken van VCSEL, om de hoge vergroting van de microbeeldvormingsstralingsanalyse van VCSEL te realiseren. De 2D-array-indeling van het VCSEL-oppervlak, de detectie van slechte punten en de stralingshelderheidsgegevens worden verkregen door een enkele meting, terwijl de afmeting van een enkele punt wordt verkregen. Uitgerust met speciale analysesoftware voor het uitvoeren van testrapporten die voldoen aan de normen. Geschikt voor de snelle en nauwkeurige analyse van VCSEL-oppervlakteegenschappen in productielijnen en laboratoria.